半导体光谱分析与拟合计算
作者:
陆卫,傅英著
ISBN:
9787030395665
出版日期:
2014-02
版次:
1
中图分类号:
O472
学科分类:
附注信息:
本书简要介绍半导体光谱测量基本手段后,比较系统地阐述了几种常用的半导体光谱分析方法,同时对光谱的拟合方法作了理论探讨和具体介绍。

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