X射线衍射形貌术
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作者：
B.K.坦纳
ISBN：
130312852
出版日期：
1985-03
版次：
1
中图分类号：
O72
学科分类：
物理学
丛书：
附注信息：
书名原文：X-Ray diffraction topography.
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图书简介：
X射线衍射形貌术是一门新型衍射技术，它广泛用于研究晶体材料的结构和性能以及鉴定晶体材料本身质量等方面．本书主要介绍X射线衍射理论动力学基础，具体阐述各有关的实验技术，解释和分析形貌图的基本程序和方法，以及形貌术在晶体品质鉴定工作中取得的主要成果．
本书可供从事于晶体材料研制的科技人员及大专院校有关专业的师生参考．
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