高能宇宙射线与大气相互作用产生大量次级中子，在半导体器件中引起中子单粒子效应，可导致电子系统产生软错误或者硬损伤，影响飞机或者临近空间飞行器飞行的可靠性和安全性。本书主要介绍大气中子辐射环境及建模、中子辐射模拟装置和中子辐射环境测量技术、中子单粒子效应机理与数值模拟方法，以及实验方法和数据处理方法，并给出单能中子源、散裂中子源、核反应堆、高山等典型环境的中子单粒子效应实验结果。