科学文库

作者：贺朝会，唐杜，臧航，邓亦凡，田赏

ISBN： 9787030764690

出版社：科学出版社

出版日期： 2023-09

简介：《多尺度模拟方法在半导体材料位移损伤研究中的应用》系统介绍了用于材料位移损伤研究的多尺度模拟方法，包括辐射与材料相互作用模拟方法、分子动力学方法、动力学蒙特卡罗方法、**性原理方法、器件电学性能模拟方法等，模拟尺寸从原子尺度的10.10m到百纳米，时间从亚皮秒量级到106s，并给

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纳米器件空间辐射效应

作者：陈伟等著

ISBN： 9787030786104

出版社：科学出版社

出版日期： 2024-06

简介：航天器运行所处的宇宙空间环境中存在大量射线粒子，这些粒子会在航天器电子器件中产生空间辐射效应，导致电子系统性能下降、状态改变，甚至功能失效，影响航天器使用寿命及在轨可靠运行。航天器功能和性能要求越来越高，高可靠性、高集成度、高性能、低功耗纳米电子器件的空间应用前景广阔。纳米器件趋

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中子单粒子效应

作者：陈伟等著

ISBN： 9787030710345

出版社：科学出版社

出版日期： 2022-06

简介：高能宇宙射线与大气相互作用产生大量次级中子，在半导体器件中引起中子单粒子效应，可导致电子系统产生软错误或者硬损伤，影响飞机或者临近空间飞行器飞行的可靠性和安全性。本书主要介绍大气中子辐射环境及建模、中子辐射模拟装置和中子辐射环境测量技术、中子单粒子效应机理与数值模拟方法，以及实验

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作者：陈伟等编著

ISBN： 9787030700391

出版社：科学出版社

出版日期： 2022-09

简介：辐射在半导体器件中电离产生电子-空穴对，长时间辐射剂量累积引起半导体器件电离辐射总剂量效应。电离辐射总剂量效应是辐射效应中最常见的一种，会导致器件性能退化、阈值电压漂移、迁移率下降、动态和静态电流增加，甚至功能失效，因此在辐射环境中工作的半导体器件和电子系统必须考虑电离辐射总剂量

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瞬时电离辐射效应

作者：陈伟等著

ISBN： 9787030740441

出版社：科学出版社

出版日期： 2023-05

简介：瞬时电离辐射效应是电子系统最常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用，感生光电流，改变器件及电路的特性和功能，影响电子系统的可靠性。《瞬时电离辐射效应》主要介绍核爆炸辐射环境及其效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器

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